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X射線衍射分析與氧化鋅的納米材料

點擊次數:2610 更新時間:2015-01-05 14:12:10?? ??來源:http://www.kelinmen.net/ 【關閉
      從而確定材料的物相、晶系等,還可利用衍射和高分辨電子顯微技術,觀察晶體中存在的結構缺陷,確定缺陷的種類,估算缺陷密度。如果TEM帶有掃描附件和能量散射X射線譜儀,那么還可以對樣品中的元素分布進行分析,確定樣品中元素的種類和組分。
     TEM的樣品多孔載網很小,直徑在3 mm左右,所以限定了樣品的大小。同樣,TEM對樣品的厚度也有要求。在常規加速電壓為100 kV時,電子的穿透能力不超過200 nm,因此樣品一般都極薄(幾十納米),以便電子束透過樣品。如果樣品比多孔載網的孔小很多,載網上需要再覆蓋一層散射能力很弱的支持膜,目前常用的是碳膜。在高倍TEM的研究工作中,目前發展了一種微柵作為樣品載網。
         X射線衍射分析(XRD)是鑒別物質晶體結構,進行物相分析的常規手段,可以用來獲得樣品的晶相結構,如點陣常數、晶粒度、結晶度、結構、內應力和位錯等。X射線是一種電磁波,當它射入晶體內部時,晶體中產生周期變化的電磁場。原子中的電子和原子核受迫振動,原子核的振動因其質量很大而忽略不計。振動著的電子產生次生X射線,其波長、周期與入射光相同?;诰w結構的周期性,晶體中各個電子的散射波可相互干涉相互疊加,稱之為衍射。由于晶體原子在空間呈周期性排列,因而這些散射只能在某些方向上疊加而產生干涉現象,造成衍射峰。利用XRD可以獲得樣品的晶體結構。

    用X射線衍射表征氧化鋅的結構特性時,常從以下幾方面進行分析。
氧化鋅
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